Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization | Kaicus Deutschland

Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization

213.99 EUR

Erkunde die Feinheiten der Anomalous‑Röntgenstreuung: ein praxisorientiertes Buch, das experimentelle Techniken mit theoretischer Analyse kombiniert und neue Wege zur Auflösung atomarer Strukturen eröffnet.

Marke: Springer Berlin Heidelberg
MPN: 21353444
ISBN: 3662146371
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