An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors | Kaicus Deutschland

An Approach to mitigate Single Event Latch Up and Soft Errors

49.00 EUR 75% Off 196.00 EUR

Ein technisches Buch, das die Entstehung von Single Event Latch Up und Soft Errors in Speicherchips erklärt, verschiedene Fehlertypen unterscheidet und neue Schutzstrategien wie adaptive ECC‑Anpassungen sowie dynamische Schaltoptimierungen vorstellt.

Marke: Amarish Dubey
ISBN: 9783659246685