Conduction par pièges dans les films minces de dioxyde de silicium: Étapes de développement d'un modèle de conduction assisté par pièges, Techniques ... associées et Étude des courants de fuites

79.00 EUR

Ein Fachbuch, das die physikalische Rolle von Defekten in ultradünnen Siliciumdioxidfilmen analysiert, neue Messverfahren für Leckströme vorstellt und ein innovatives Modell der trap‑gestützten Leitfähigkeit entwickelt.

ISBN: 6131513805

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Gesponsert Conduction par pièges dans les films minces de dioxyde de silicium, Fachbücher von Stéphane Burignat

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03-08-2026 08:34:50

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Conduction par pièges dans les films minces de dioxyde de silicium: Étapes de développement d'un modèle de conduction assisté par pièges, Techniques ... associées et Étude des courants de fuites

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