Copper Resistivity in Nanometric Dimensions | Kaicus Deutschland

Copper Resistivity in Nanometric Dimensions

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Untersucht, wie Kupfer bei wenigen Nanometern seine Leitfähigkeit verliert, erklärt die daraus resultierenden Widerstandszunahmen in Leiterbahnen von Mikroprozessoren und gibt Einblicke in mögliche Designanpassungen für zukünftige integrierte Schaltungen.

Marke: Hagay Marom
ISBN: 3659411612