Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220, Band 220) | Kaicus Deutschland

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220, Band 220)

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Marke: Evgeni Gusev
ISBN: 140204366X
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28-07-2026 20:15:16