Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220, Band 220) | Kaicus Deutschland

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 220, Band 220)

197.54 EUR 16% Off 236.00 EUR

Marke: Evgeni Gusev
ISBN: 140204366X
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213.99 EUR 236.00 EUR
16-09-2026 07:20:16
236.00 EUR 236.00 EUR
18-09-2026 18:13:34