Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 2, Band 2) | Kaicus Deutschland

Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology (NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry, 2, Band 2)

197.54 EUR 8% Off 213.99 EUR

Marke: Gianfranco Pacchioni
ISBN: 0792366859
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