Defects Spectroscopy in Silicon Diodes: Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage | Kaicus Deutschland

Defects Spectroscopy in Silicon Diodes: Deep-level traps in semiconductors physics: from ultra-fast recovery to radiation-induced damage

68.74 EUR 2% Off 69.90 EUR

Marke: Nicolò Barbero
ISBN: 9783639773040
Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen