Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

59.90 EUR

Ein praxisnahes Werk für Halbleiteringenieure, das innovative Techniken zur Steigerung von Yield und Zuverlässigkeit in Nanometer-CMOS‑Digitalschaltungen vorstellt – inklusive statistischer Designansätze, Soft‑Error‑Simulationen, adaptivem Body‑Bias und negativen Kapazitätskreisen.

ISBN: 365951361X
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