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23-04-2026 14:43:02
Ein praxisnahes Werk für Halbleiteringenieure, das innovative Techniken zur Steigerung von Yield und Zuverlässigkeit in Nanometer-CMOS‑Digitalschaltungen vorstellt – inklusive statistischer Designansätze, Soft‑Error‑Simulationen, adaptivem Body‑Bias und negativen Kapazitätskreisen.