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GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
48.00 EUR
Marke
:
Cuvillier Verlag
MPN:
35201827
ISBN:
3736999062
Angebote
Merkmale
Gesponsert
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Gesponsert
GaN HEMT Modeling Including Trapping Effects Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements
Hugendubel
48.00 EUR
48.00 EUR
28-08-2024 19:36:00
Access to the deal
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