Historical Evolution Toward Achieving Ultrahigh Vacuum in JEOL Electron Microscopes | Kaicus Deutschland

Historical Evolution Toward Achieving Ultrahigh Vacuum in JEOL Electron Microscopes

53.49 EUR

Erkunden Sie die Meilensteine der Vakuumtechnik in JEOL‑Elektronenmikroskopen, von ersten Prototypen bis zu modernen ultrahochverdünnten Systemen, und erfahren Sie, wie diese Entwicklungen die Bildschärfe und Forschungsanwendungen revolutioniert haben.

ISBN: 443154447X
Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen