Name: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics) (Springer Tracts in Modern Physics, 209, Band 209)
Brand: Springer Berlin Heidelberg
SKU: ID12593191
Availability: InStock

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons (Springer Tracts in Modern Physics) (Springer Tracts in Modern Physics, 209, Band 209)

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Ein praxisnahes Lehrbuch zur Infrarot‑Ellipsometrie in Halbleiterschichten, das die Wechselwirkung von Licht mit Phononen, Plasmons und Polaritonen erklärt, Messstrategien optimiert und neue Analyseansätze für Materialforschung präsentiert.

Marke: Springer Berlin Heidelberg

ISBN: 3642062288

MPN: 77 black & white illustrations

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