New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy | Kaicus Deutschland

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy

109.99 EUR

Ein praxisnahes Buch, das die neuesten Rasterelektronenmikroskopie‑Techniken von Probenvorbereitung bis zur Bildanalyse erklärt, mit Fokus auf moderne Detektoren und Dateninterpretation.

Marke: Springer-Verlag GmbH
MPN: 95 black & white illustrations, 5 colour
ISBN: 9783642031595
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