Name: Noncontact Atomic Force Microscopy
Brand: Springer-Verlag GmbH
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Noncontact Atomic Force Microscopy

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Dieses Fachbuch bietet einen tiefen Einblick in die nichtkontakt‑AFM, erklärt fortgeschrittene Messalgorithmen, adaptive Kalibrierung und vielseitige Anwendungen von Nanomaterialien bis hin zu biologischen Proben.

Marke: Springer-Verlag GmbH

MPN: 28 black & white illustrations, 77 colou

ISBN: 9783642014949

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