Optical Characterization of Thin Solid Films

181.89 EUR

Ein Fachwerk, das die Grundlagen und fortgeschrittenen Methoden der optischen Analyse dünner Festschichten erläutert, von Interferometrie über Ellipsometrie bis hin zu Raman‑Spektroskopie, und deren Einsatz in Forschung und Industrie anschaulich darstellt.

Marke: Springer
ISBN: 3030092003
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30-04-2026 00:13:45