Name: Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses: Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses
Brand: Sudwestdeutscher Verlag Fur Hochschulschriften AG
SKU: ID11791676
Availability: InStock

Optical Testing of Semiconductor Devices under High Energy Pulses: Advanced Optical Interferometric Methods for Nanosecond Mapping of Semiconductor Devices under High Energy Pulses

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Dieses Buch beleuchtet moderne interferometrische Verfahren zur Messung von Halbleitergeräten unter extrem schnellen Hochenergieimpulsen und zeigt, wie Nanosekundenpräzision in der Bildgebung realisiert wird.

Marke: Sudwestdeutscher Verlag Fur Hochschulschriften AG

ISBN: 9783838104041

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