Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors | Kaicus Deutschland

Quantitative TEM Study of Nitride Semiconductors

71.90 EUR

Ein Fachbuch, das die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie von III‑Nitride-Semikonduktornanostrukturen nutzt, um präzise Daten zu Kristallstruktur, Elementverteilung und Defektarten zu liefern.

ISBN: 6131545006
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