Name: Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)
Brand: Springer-Verlag GmbH
SKU: ID11809446

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)

236.00 EUR

Ein praxisnahes Nachschlagewerk, das die Grundlagen der Atomkraft‑ und Tunnelingmikroskopie in klaren Schritten vermittelt, neue Messmethoden vorstellt und typische Fehlerquellen erklärt.

Marke: Springer-Verlag GmbH

ISBN: 3662452391

MPN: 41 black & white illustrations, 148 colo

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236.00 EUR 236.00 EUR

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