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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (NanoScience and Technology)

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Ein praxisnahes Nachschlagewerk, das die Grundlagen der Atomkraft‑ und Tunnelingmikroskopie in klaren Schritten vermittelt, neue Messmethoden vorstellt und typische Fehlerquellen erklärt.

Marke: Springer-Verlag GmbH
ISBN: 3662452391
MPN: 41 black & white illustrations, 148 colo
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