Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs

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Einführend in die Quantenspin-Messung bei submikronen Silizium‑MOSFETs, beleuchtet das Werk zufällige Telegraphsignale und beschreibt die Technik der Spin‑Resonanz aus experimenteller Sicht, ohne technische Vorkenntnisse vorauszusetzen.

ISBN: 3836493756

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Gesponsert Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs, Fachbücher von Ming Xiao

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