Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs

59.00 EUR

Einführend in die Quantenspin-Messung bei submikronen Silizium‑MOSFETs, beleuchtet das Werk zufällige Telegraphsignale und beschreibt die Technik der Spin‑Resonanz aus experimenteller Sicht, ohne technische Vorkenntnisse vorauszusetzen.

ISBN: 3836493756
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