Surface Insulation Resistance Degradation & Electrochemical Migration

59.00 EUR

Erforscht die Anfälligkeit von bleifreien sowie eutektischen Zinn-Blei-Lötverbindungen gegen elektrochemische Migration auf Leiterplatten, analysiert Ursachen und bietet praxisnahe Schutzmaßnahmen für langlebige Elektronik.

Marke: Vdm Verlag
ISBN: 3639384202
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