VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30 | Kaicus Deutschland
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Kaicus Medien Bücher VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings

53.49 EUR

Ein kompakter Leitfaden aus dem VLSI Design and Test Symposium 2013 in Jaipur, der aktuelle Ansätze zu Schaltkreisarchitektur, Verifikation und Fehleranalyse zusammenfasst und Ingenieuren praxisnahe Einblicke bietet.

Marke: Gaur, Manoj Singh
MPN: 246 black & white illustrations
ISBN: 3642420230
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