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53.49 EUR
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27-04-2026 06:45:40
Erkunden Sie in diesem Werk die neuesten Ansätze zur Entwicklung, Validierung und Ausfallsicherheit von System-on-Chip‑Architekturen im Nanoskalenbereich, wobei innovative Testverfahren, Fehlerdiagnosestrategien und Optimierungstechniken für hochleistungsfähige integrierte Schaltungen vorgestellt werden.