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53.49 EUR
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12-06-2026 13:29:06
Erkunden Sie in diesem Werk die neuesten Ansätze zur Entwicklung, Validierung und Ausfallsicherheit von System-on-Chip‑Architekturen im Nanoskalenbereich, wobei innovative Testverfahren, Fehlerdiagnosestrategien und Optimierungstechniken für hochleistungsfähige integrierte Schaltungen vorgestellt werden.