Materials Characterization Using Nondestructive Evaluation

Conoce las herramientas de inspección no destructiva que permiten mapear la microestructura de materiales electrónicos y ópticos, integrando ultrasonido, resonancia magnética y análisis espectral para detectar defectos internos con alta resolución y precisión.

Marca: Elsevier Science & Technology
ISBN: 0081000405
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Colección WOODHEAD PUBLISHING SERIES IN ELECTRONIC AND OPTICAL MATERIALS
Edición 1ª Abril de 2016
Editorial ELSEVIER SCIENCE PUB.B.U.
Idiomas INGLES
ISBN 9780081000403
Páginas 320