Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization | Kaicus France
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Kaicus Médias Livres Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]

258.54 EUR

Marque: Springer-Verlag GmbH
MPN: 31345890
ISBN: 3319756869
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258.54 EUR 258.54 EUR
24-09-2026 23:58:52
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