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Kaicus Médias Livres Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]

242.85 EUR

Marque: Springer-Verlag GmbH
MPN: 31345890
ISBN: 3319756869
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242.85 EUR 242.85 EUR
09-08-2026 21:00:58
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