Name: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
Brand: Springer New York
SKU: ID12525513
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

106.99 EUR

Dieses Buch untersucht die atomare Struktur von Si₃N₄‑Grenzflächen durch hochauflösende Bildgebung und First‑Principles‑Simulationen, um neue Einsichten in Materialeigenschaften zu gewinnen.

Marke: Springer New York

ISBN: 1461428572

MPN: 2 black & white tables, biography

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Gesponsert Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si N Interfaces, Fachbücher von Weronika Walkosz

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05-07-2026 13:52:40

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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

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