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Kaicus Medien Bücher Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
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Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

106.99 EUR

Dieses Buch untersucht die atomare Struktur von Si₃N₄‑Grenzflächen durch hochauflösende Bildgebung und First‑Principles‑Simulationen, um neue Einsichten in Materialeigenschaften zu gewinnen.

Marke: Springer New York
ISBN: 1461428572
MPN: 2 black & white tables, biography
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