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Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
106.99 EUR
Marke
:
Springer-Verlag GmbH
MPN:
13051608
ISBN:
9781441978165
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Merkmale
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Gesponsert
Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
SpringerLink DE
106.99 EUR
106.99 EUR
16-05-2026 18:14:26
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