CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

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Ein praxisorientiertes Handbuch zur Entwicklung von CMOS‑SRAM in Nano‑Skalen, das Prozesswissen nutzt, um Speicherarchitekturen zu optimieren und gezielte Parametertests durchzuführen.

ISBN: 904817855X

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