CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Kaicus Deutschland

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

171.19 EUR

Ein praxisorientiertes Handbuch zur Entwicklung von CMOS‑SRAM in Nano‑Skalen, das Prozesswissen nutzt, um Speicherarchitekturen zu optimieren und gezielte Parametertests durchzuführen.

ISBN: 904817855X
MPN: biography
Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen