Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs | Kaicus Deutschland
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Kaicus Medien Bücher Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs
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Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs

48.34 EUR

Marke: Indranil Chatterjee
ISBN: 365912365X
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Gesponsert Single Event Upset in Dual- and Triple-Well SRAMs: Radiation-induced Charge Collection Mechanisms in sub-90nm Dual- and Triple-well CMOS SRAMs

48.34 EUR 48.34 EUR
13-08-2026 20:09:44
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