All categories
Kaicus
Baby & Kleinkind
Bekleidung & Accessoires
Bürobedarf
Elektronik
Fahrzeuge & Teile
Für Erwachsene
Gesundheit & Schönheit
Heim & Garten
Heimwerkerbedarf
Kameras & Optik
Kunst & Unterhaltung
Medien
Möbel
Nahrungsmittel, Getränke & Tabak
Software
Spielzeuge & Spiele
Sportartikel
Taschen & Gepäck
Tiere & Tierbedarf
Wirtschaft & Industrie
UK España Italia Deutschland France
© 2026, Kaicus - Smart Shopping
All rights reserved
Kaicus Medien Bücher Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
product image
product image
product image
product image

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

187.98 EUR 12% Off 213.99 EUR

Marke: Springer US
ISBN: 0387465464
MPN: 5860717
Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen
-12%

Gesponsert Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

187.98 EUR 213.99 EUR
22-04-2026 06:33:43
Access to the deal

Gesponsert Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

213.99 EUR 213.99 EUR
22-04-2026 09:04:13
Access to the deal

Ähnliche Produkte

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications

102.14 EUR 106.99 EUR
Produkt anzeigen

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

207.35 EUR 213.99 EUR
Produkt anzeigen

Reconstruction of the Head and Neck

154.99 EUR 155.00 EUR
Produkt anzeigen

Theories of Democracy in Comparison: The Russian Case. Output-oriented Legitimacy, Defect Democracy, Political Culture, Path Dependence and Public Opinion

47.95 EUR
Produkt anzeigen