Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs | Kaicus Deutschland

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Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

109.99 EUR

Marke: Brandon Noia

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Gesponsert Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs, Fachbücher von Krishnendu Chakrabarty, Brandon Noia

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109.99 EUR 109.99 EUR

08-07-2026 10:06:59

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