VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India | Kaicus Deutschland
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Kaicus Medien Bücher VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers
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VLSI Design and Test: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers

106.99 EUR

ISBN: 9811074690
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