Name: Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies
Brand: Slawosz Uznanski
SKU: ID13594412
Availability: InStock

Single Event Upsets in Sub-65nm CMOS technologies

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Erforscht, wie Teilchenimpulse CMOS-Chips unter 65 nm stören, indem es Monte‑Carlo-Simulationen mit experimentellen Daten kombiniert und die zugrunde liegenden physikalischen Prozesse anschaulich darstellt.

Marke: Slawosz Uznanski

ISBN: 3846595519

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